【采购结果】光学膜厚仪
· 2024-03-15
| 申购单主题： | 光学膜厚仪 | 申购单位： | 采购办 |
| 申购备注： |
| 设备名称 | 品牌 | 型号 | 数量 | 报价类型 | 售后服务 |
| 光学膜厚仪 | ThetaMetrisis | FR-Scanner AllInOne RED/NIR | 1 | 进口免税价/欧元 | |
| 规格 | 1.设备用途：透明或半透明的镀层厚度测量及Mapping测绘2.设备性能：1）设备配置有用于控制和显示的最新操作系统的电脑及显示器；2) 设备手动上下片，可实现一键多点自动测量；3) 设备有自动找点功能,软件上指定坐标，stage平台能够自动把该点送到测量区域；4)设备能够对测量数据进行分析，输出包括最大值，最小值，平均值，均匀性，拟合度等信息，并形成2D和3D彩色Mapping图，2D与3D呈现方式体现反射率、厚度、折射率的测量结果；5）设备带有高级设备参数分析软件可对单层或多层的膜层厚度进行测量和分析，能够进行自动Mapping测量设置，具有工艺程序编辑功能； | ||||
| 中标供应商 | 单价 | 初选理由 | |||
| 岱美仪器技术服务（上海）有限公司 | 38150 | 最低价原则 |
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